Memory device and test method for memory device

메모리 장치 및 메모리 장치의 테스트 방법

Abstract

본 발명에 따른 메모리 장치는, 제1뱅크; 제2뱅크; 다수의 인터페이스 패드; 및 압축 테스트시, 상기 제1뱅크의 압축 데이터를 상기 다수의 인터페이스 패드 중 하나 이상의 인터페이스 패드를 통해 출력하고, 이후 상기 제2뱅크의 압축 데이터를 상기 하나 이상의 인터페이스 패드를 통해 출력하는 데이터 출력부를 포함한다.

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    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    KR-100913968-B1June 17, 2009주식회사 하이닉스반도체반도체 메모리 장치
    KR-20050089900-ASeptember 09, 2005주식회사 하이닉스반도체병렬 테스트 회로를 포함하는 메모리 장치
    KR-20090003641-AJanuary 12, 2009주식회사 하이닉스반도체Apparatus and method for testing high integrated semiconductor memory apparatus
    KR-20110002678-AJanuary 10, 2011주식회사 하이닉스반도체Semiconductor memory device and method for testing the same

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